Měření depozice tenkých vrstev - Vakuotechnika.cz

    V oblasti měření depozice tenkých vrstev metodou vakuového povlakování, nabízíme systémy pro měření deponované tloušťky a rychlosti depozice vrstev. Dále nabízíme veškeré potřebné příslušenství od měřících senzorů až po sofistikované měřící a regulační přístroje. Zajišťujeme instalaci těchto přístrojů do povlakovacích zařízení a napojení na řídící systémy těchto aparatur.

    Monitory depozice tenkých vrstev jsou přístroje pro měření a řízení tloušťky a rychlosti depozice tenkých vrstev metodou vakuového povlakování.

    Držáky krystalů označované také jako snímače QCM, slouží k uchycení měřícího krystalu ve vakuové aparatuře.

    Krystaly pro měření depozice tenkých vrstev metodou vakuového povlakování.