Měření depozice tenkých vrstev - Vakuotechnika.cz

Přihlášený uživatel:Odhlásit
Přejít na obsah

Měření depozice tenkých vrstev

    V oblasti měření depozice tenkých vrstev metodou vakuového povlakování, nabízíme systémy pro měření deponované tloušťky a rychlosti depozice vrstev. Dále nabízíme veškeré potřebné příslušenství od měřících senzorů až po sofistikované měřící a regulační přístroje. Zajišťujeme instalaci těchto přístrojů do povlakovacích zařízení a napojení na řídící systémy těchto aparatur.
Měření depozice tenkých vrstev
Monitory depozice tenkých vrstev
    Monitory depozice tenkých vrstev jsou přístroje pro měření a řízení tloušťky a rychlosti depozice tenkých vrstev metodou vakuového povlakování.
STM-2 je přístroj pro měření tloušťky a rychlosti depozice tenkých vrstev.
Cena a dostupnost na dotaz
(obvykle skladem u dodavatele)
Vložením do košíku poptáte
0,00 Kč(bez DPH)
Přidat
Držáky krystalů
    Držáky krystalů označované také jako snímače QCM, slouží k uchycení měřícího krystalu ve vakuové aparatuře.
Držák krystalu pro měření depozice tenkých vrstev metodou vakuového napařování.
Skladem
3 950,00 Kč(bez DPH)
Přidat
Měřící krystaly
    Krystaly pro měření depozice tenkých vrstev metodou vakuového povlakování.
Křemenný krystalový monitor 5 MHz
Dostupnost: 1
275,00 Kč(bez DPH)
Přidat
Křemenný krystalový monitor 6 MHz
Dostupnost: 9
120,00 Kč(bez DPH)
Přidat
Křemenný krystalový monitor 5 MHz
Dostupnost: 2
199,00 Kč(bez DPH)
Přidat
Křemenný krystalový monitor 6 MHz
Cena a dostupnost na dotaz
(obvykle skladem u dodavatele)
Vložením do košíku poptáte
199,00 Kč(bez DPH)
Přidat
Návrat na obsah