Měření depozice tenkých vrstev
V oblasti měření depozice tenkých vrstev metodou vakuového povlakování, nabízíme systémy pro měření deponované tloušťky a rychlosti depozice vrstev. Dále nabízíme veškeré potřebné příslušenství od měřících senzorů až po sofistikované měřící a regulační přístroje. Zajišťujeme instalaci těchto přístrojů do povlakovacích zařízení a napojení na řídící systémy těchto aparatur.
Monitory depozice tenkých vrstev
Monitory depozice tenkých vrstev jsou přístroje pro měření a řízení tloušťky a rychlosti depozice tenkých vrstev metodou vakuového povlakování.
STM-2 je přístroj pro měření tloušťky a rychlosti depozice tenkých vrstev.
Cena a dostupnost na dotaz
(obvykle skladem u dodavatele)
Vložením do košíku poptáte
(obvykle skladem u dodavatele)
Vložením do košíku poptáte
(bez DPH)
Cena bez slevy0,00 Kč
Držáky krystalů
Držáky krystalů označované také jako snímače QCM, slouží k uchycení měřícího krystalu ve vakuové aparatuře.
Držák krystalu pro měření depozice tenkých vrstev metodou vakuového napařování.
Skladem
(bez DPH)
Cena bez slevy3 950,00 Kč
Měřící krystaly
Krystaly pro měření depozice tenkých vrstev metodou vakuového povlakování.
Křemenný krystalový monitor 5 MHz
(bez DPH)
Cena bez slevy275,00 Kč
Křemenný krystalový monitor 6 MHz
(bez DPH)
Cena bez slevy120,00 Kč
Křemenný krystalový monitor 5 MHz
(bez DPH)
Cena bez slevy199,00 Kč
Křemenný krystalový monitor 6 MHz
Cena a dostupnost na dotaz
(obvykle skladem u dodavatele)
Vložením do košíku poptáte
(obvykle skladem u dodavatele)
Vložením do košíku poptáte
(bez DPH)
Cena bez slevy199,00 Kč